2011年5月19日下午，电子科技大学陈树强教授来我中心访问。陈教授参观了中心实验室并做了题为“微电子芯片关键尺寸(CD)测试/分析系统”的学术报告，对OCD微电子芯片测试技术的优点、系统的组成、关键技术、应用领域以及发展趋势做了详细介绍。（朱承前 报道）
 

附：陈树强教授简介
       陈树强：1992年底获电子科技大学电磁场与微波技术专业博士学位。1993-2000年，为北京邮电大学博士后、副教授、教授，光纤通信中心主任。2000年底开始在美国加州SpectraSwitch Inc.任唯一的高级研究科学家，2002年底-2008年6月为加州硅谷N & K Technology Inc.的高级研究科学家。2000年底赴美之前是中国国家高速实验网络(NSFCnet, 国家自然科学基金的重大建设项目)的技术监理专家，中国科学院总体部的客座研究员。个人背景资料被1999年第16版的国际名人典(Who is Who in the world, 16th edition)收录。现回国任电子科技大学教授，研究方向为半导体光测试技术及光纤通信相关技术。